元器件检验通用实用标准

发布于:2021-09-12 18:48:22

抽样检验标准:

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来料检验标准
碳膜电阻

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-001 受控状态: 修 改 页: 第 1 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

色环标识与电阻标称值精度等级是否一一致.

色环标识

MI

1 外观

用毛刷沾洗板水轻擦色环,不能出现脱色现象。

检验方法 目测

元件体 电阻有无破损,引脚是否氧化。

MI

目测

2 尺寸 符合产品工程图;符合实际装配。

MA

钢尺或游标卡尺

1. 用 LCR 电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内,

电阻值小于 10K 的用串联方式,频率选用 100Hz.

电阻值大于等于 10K 的用并联方式,频率选用

3 电性

100Hz。

MA

2. 分别在高温 85℃、低温-20℃、温度 93%±3%、

100CM 高度自由跌落 3 次,对应 R 值均符合标称

值以及偏差允许范围。

3. 碳膜电阻误差值:±5%

用 40W 烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 4 可焊性 230±5℃锡炉中一次上锡面积大于 85%。表面色环的 MA
颜色不发生变化。
1. 所用材料与样品相符。

5 材料 2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

3. 外壳用刀片刮取,壳体坚韧度需符合。

LCR 电桥
烙铁 小锡炉 目测、对比样品 刀片

1、包装材料用料正确。 包装 2、小包装方式、数量无误。 6 标识 3、装箱方式、数量无误。
4、(内包装、外箱)标识单内容正确。

MA

目测

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来料检验标准
金属膜电阻类

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-002 受控状态: 修 改 页: 第 2 页 共 53 页

抽样检验标准:依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

1 外观

色环标识 元件体

色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。 MI

电阻有无破损,引脚是否氧化。

MI

检验方法 目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图。

MA 钢尺或游标卡尺

1.室温下用 LCR 电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内,

电阻值小于 10K 的用串联方式,频率选用 100Hz;电阻

3

值大于等于 10K 的用并联方式,频率选用 100Hz。

MA

电性 2.分别在 75℃、-5℃以下、湿度 93%±3%、100CM 高度

LCR 电桥

自由跌落 3 次,对应 R 值均符合标称值及偏差允许范围。

3.金属膜、精密电阻阻值偏差不得超出标称值的上下限。

4

CR

4. 金属膜电阻误差值±1%

用 40W 烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

5 可焊性

MA

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

烙铁 小锡炉

1、所用材料与样品相符。 6 材料
2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA 目测、对比样品

1、包装材料用料正确。 包装 2、小包装方式、数量无误。 7 标识 3、装箱方式、数量无误。
4、(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

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日期

日期

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日期

来料检验标准

抽样来料检验标准:

氧化膜电阻

版 本:第三版
文件编号:WI/HV-12-003
受控状态: 修 改 页: 第 3 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

检验方法

丝印 色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。 MI

1

外观

元件体 电阻有无破损,引脚是否氧化。

MI

目测 目测

2

尺寸 外形尺寸是否符合产品工程图。

MA 钢尺或游标卡尺

1. 用 LCR 电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内,

电阻值小于 10K 的用串联方式,频率选用 100Hz;

3

电性 2. 分别在 75℃、-5℃、湿度 93%±3%、100CM

CR

高度自由跌落 3 次,对应 R 值均符合标称值及

偏差允许范围

LCR 电桥

4

材料 所用材料与样品相符

MA 目测、对比样品

1. 包装材料用料正确。 2. 小包装方式、数量无误。 5 包装标识 3. 装箱方式、数量无误。 4. (内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

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来料检验通用标准
AI 机用的电阻、二极管引脚标准要求

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-004 受控状态: 修 改 页: 第 4 页 共 53 页

抽样检验标准:依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

碳膜电阻、金膜电阻、二极管 1N4148、二极管 1N4007 引脚直径

序 检验 号 项目

检验标准及要求

1.1/4W 碳膜、金膜电阻引脚直径要求必需达 0.43-0.5mm

AQL 检验方法

电阻 2.1/4W 电阻要求带编带(26mm),编带中间电阻引脚的两端

1

CR

引脚 尺寸为 26mm,也有 52mm。

数字卡尺 目测

3.电阻引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象。

1、二极管 1N4148 引脚直径为 0.45-0.5mm。

二极管 2.二极管 1N4148 要求带编带(26mm),编带中间二极管 1N4148

数字卡尺

2 1N4148 引脚的两端尺寸为 26mm。

CR

目测

引脚 3.二极管 1N4148 引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等

现象

1.二极管 1N4007 引脚直径为 0.68-0.73mm。

二极管 2.二极管 1N4007 要求带编带(58mm),编带中间二极管 1N4007

数字卡尺

3 1N4007 引脚的两端尺寸为 58mm。

CR

目测

引脚 3.二极管 1N4007 引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等

现象

用 40W 烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230±5℃

4 可焊性

MI

锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

烙铁 小锡炉

1. 所用材料与样品相符。 5 材料
2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

目测、对比样 MA


包装 1. 包装材料用料正确。 3.装箱方式、数量无误。

6

MI

标识 2. 小包装方式、数量无误。4.内包装、外箱标识单内容正确。

目测

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来料检验标准
瓷片电容

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-005 受控状态: 修 改 页: 第 5 页 共 53 页

抽样检验标准:依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

电容:104P/50V+80%-20% 102P/50V+80%-20%(直径φ5 脚距 5mm)

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

丝印 丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。

MI

1 外观

元件体 引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤、裂痕等。 MI

检验方法 目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图。脚距 5mm,φ6mm,符合实际装配。 MA 钢尺或游标卡尺

1.使用数字电容测试仪检测其容量是否在允许范围内,

漏电流检测仪检测其额定耐压与漏电流的大小。

2.常温下用数字电容测试仪检测电容值为

0.1UF+80%-20%(0.001mF+80%-20%),损耗角≤0.05。 3.常温下,用绝缘电阻测试仪测其绝缘阻≥10000MΩ 4.常温下,用耐压测试仪测端子间耐压值 75V;端子与

数字电容测试仪 漏电流测试仪

3 电性

外壳间耐压值为 100V,应元击穿或飞弧现象(高温 CR

耐压测试仪

区 95℃-105℃检测方法相同)。

绝缘电阻测试仪

5.将其放于 95℃~105℃及低温-18℃以下,使用数字

电容测试仪检测测其电容值为 0.1UF+80%-20%

(0.001mF+80%-20%).

6. 手工浸水湿度 93%±3%用数字电容测试仪测其电容

0.1UF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230±5℃锡炉

4 可焊性

MI

中,一次上锡面积大于 85%。

烙铁 小锡炉

1、 所用材料与样品相符。
5 材料
2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

1.包装材料用料正确。

6

2.小包装方式、数量无误。 包装标识 3.装箱方式、数量无误。

4.内包装、外箱标识单内容正确。

MA 目测、对比样品

MI

目测

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日期

日期

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日期

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来料检验标准
高压瓷片电容

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-006 受控状态: 修 改 页: 第 6 页 共 53 页

抽样检验标准:依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

电容: 101P/1KV(直径φ5 脚距 5mm) 102P/1KV(直径φ6.5 脚距 5mm) 103P/1KV(直径φ8.5 脚距 5mm)

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

检验方法

1 外观

丝印 元件体

丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。

MI

引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤、裂痕等。 MI

目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图。

MA 钢尺或游标卡尺

1.用数字电容测试仪检测其容量是否在允许范围内,漏电流检测

仪检测其额定耐压与漏电流的大小。

2 . 常 温 下 用 数 字 电 容 测 试 仪 检 测 电 容 值 为 0.1UF+80%-20%

(0.001mF+80%-20%),损耗角≤0.05。

3.常温下,用绝缘电阻测试仪测其绝缘阻≥10000MΩ

4.常温下,用耐压测试仪测试端子间耐压值 1.6Ur(5s);端子与

3 电性

CR

外壳间耐压值为 1250V,应元击穿或飞弧现象(高温区 95℃

-105℃检测方法相同)。

数字电容测试仪 漏电流测试仪 耐压测试仪
绝缘电阻测试仪

5.将其放于 95℃~105℃及低温-18℃以下,使用数字电容测试仪

检测测其电容值为 0.1UF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).

6.手工浸水湿度 93%±3%用数字电容测试仪测其电容

0.1UF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230±5℃锡炉中,

4 可焊性

MI

一次上锡面积大于 85%。

烙铁 小锡炉

5 材料
包装
6
标识
拟制:

1、 所用材料与样品相符。
2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
1 包装材料用料正确。 2.小包装方式、数量无误。 3.装箱方式、数量无误。 4.内包装、外箱标识单内容正确。
审核:

MA 目测、对比样品

MI

目测

批准:

日期
实用大全

日期

日期

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来料检验标准
高压金属膜电容

版 本:第三版

文件编号:WI/HV-12-007

受控状态:

修 改 页:

第7 页

共 53 页

抽样来料检验标准:依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

高压电容(CBB 金属膜电容) CBB21-473J400V(脚距 10mm)

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

丝印是否清晰可辩,有明确认证标志,是否标明

丝印

MI

3C、UL、T?V 或 VDE 等认证标志。

1 外观

引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤,

元件体

MI

封胶是否有气孔等。

检验方法 目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图

MA 游标卡尺

1.根据所测试安规电容的容量在电容测试仪设置标准容量,根据电容

正负偏差设置上下偏差,然后依据电容的标称电压值,设定其损耗角

耐压测试仪

正切值,最后夹上待测电容,“PASS”灯亮表示合格。

电容测试仪

2.用电容测试仪测其电容 0.047μF±5%,损耗角≤1.0%(20℃ 1KHZ).

3 电性

CR

3.用绝缘电阻测试仪测其 R≥30000MΩ(20℃ 1min)

漏电流 测试仪

4.常温下 100CM 高度自由跌落 3 次,再测其电容值应为 0.047μF±5%.

绝缘电阻

5.用耐压测试仪测其极与极的抗电强度 2Ur(2S).

测试仪

6.高温 80℃及低温-20℃时,测其电容值为 0.047μF±5%。

使用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230±5℃锡炉中,

4 可焊性

MI

一次上锡面积大于 85%。

烙铁 小锡炉

1. 所用材料与样品相符。
5 材料
2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

目测、对比 MA
样品

1. 材料用料正确
6 包装标识 2. 装箱方式、数量无误
3. (内包装、外箱)标识单内容正确

MI

目测

拟制:

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批准:

日期

日期

日期

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来料检验标准
聚酯膜(绦纶)电容

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-008 受控状态: 修 改 页: 第 8 页 共 53 页

抽样来料检验标准:依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

聚脂膜电容(绦纶): 2J103J(630V)(脚距 4mm)

2J152J(630V)(脚距 4mm)

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL 检验方法

丝印 丝印是否清晰可辩,负极标志、丝印标识是否与来料相符。 MI

1 外观

元件体 引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤。

MI

目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图

钢尺
MA
游标卡尺

1.根据所测电容器容量在电容测试仪设置标准容量,根据电容正负

电容

偏差设置上下偏差,然后根据电容的标称耐压来设定损耗角,最后

测试仪

夹上待测电容,“PASS”灯亮表示为合格。

万用表

2.用电容测试仪或 LCR 电桥测其电容 0.0001μF±5%(0.00152μF

稳压电源

3 电性 ±5%) ,损耗角正切值≤0.01(20℃ 1KHZ)。

CR
漏电流

3.用耐压测试仪测其极与极间的抗电强度 2Ur(Ur=630VDC)时间 5S

测试仪

4.用绝缘电阻测试仪测其 R≥30000MΩ(20℃ 1min)。

绝缘电阻

5.工作温度范围-40℃~+85℃

测试仪

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230±5℃锡炉中,

烙铁

4 可焊性

MI

一次上锡面积大于 85%。

小锡炉

1、所用材料与样品相符。 5 材料
2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
1、材料用料正确。 2、小包装方式、数量无误。 包装 3、装箱方式、数量无误。 6 标识 4、(内包装、外箱)小标签内容正确。

目测、 MA
对比样品 MI 目测

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来料检验标准
二极管 IN4007
抽样来料检验标准:

版 本:第三版

文件编号:WI/HV-12-009

受控状态:

修 改 页:

第9 页

共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

二极管:D1-D5 IN4007

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

丝印 负极标志及字符丝印是否清晰可辩。

MI

1 外观

元件体 元件体引脚是否氧化,是否有毛刺和破损。

MI

检验方法 目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图;符合实际装配。

MA

1. 用晶体管测试仪先后测试二极管正向压降:0.6~1.1V
和反向耐压:IN4007>1000V、
3 电性 2. IN4007 在最大反向电压下其最大反向电流值为 5.0μ CR A(+25℃),*均输出电流值为 1A(+75℃)
3. 工作温度范围为-65℃to+125℃

钢尺或游标卡尺
晶体管测试仪 稳压电源 万用表

用 40W 烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4 可焊性

MA

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

烙铁 小锡炉

1. 所用材料与样品相符。

5 材料

MA

2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

1、包装材料用料正确。 包装 2、小包装方式、数量无误。 6 标识 3.装箱方式、数量无误。
4.(内包装、外箱)标识单内容正确。

拟制:

审核:

MI
批准:

目测、对比样品 目测

实用大全

日期

日期

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日期

来料检验标准
二极管 IN4007
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-009A 受控状态: 修 改 页: 第 9A 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

稳压二极管参数:

型号 IN4723 IN4732 IN4733 IN4734 IN4723 IN4723

稳压值及精度 3.3V±5% 4.3V±5% 5.1V±5% 5.6V±5% 12V±5% 27V±5%

测试电流 76mA 53mA 49mA 45mA 21mA 9.5mA

正向电压(VF) 当 IF=200mA 时,VF≤1.2V 当 IF=200mA 时,VF≤1.2V 当 IF=200mA 时,VF≤1.2V 当 IF=200mA 时,VF≤1.2V 当 IF=200mA 时,VF≤1.2V 当 IF=200mA 时,VF≤1.2V

二极管参数:

型号 最大反向电压(VR) 正向电压(VF) 正向电流(IF) 最大正向输出电流 IAF

IN4001

≥50V

≤0.7V

5.0μA

1A

IN4002

≥100V

≤0.7V

5.0μA

1A

IN4007 IN4148

≥1000V ≥100V

≤0.7V ≤0.7V

5.0μA 5.0μA

1A 150mA

BAV99

≥75V

≤0.7V

1.0μA

215mA

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实用大全

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日期

日期

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日期

来料检验标准
二极管 IN4148
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-010 受控状态: 修 改 页: 第 10 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

二极管:D6-D7

序号

检验 项目

IN4148 检验标准及要求

AQL 检验方法

丝印 负极标志及字符丝印是否清晰可辩。

MI

1

外观

元件体 元件体引脚是否氧化,是否有毛刺和破损。 MI

目测 目测

2

尺寸

符合产品工程图;符合实际装配。

MA 钢尺或游标卡尺

1、用晶体管测试仪先后测试二极管正向压降:

0.6~1.0V 和反向耐压:IN4148>100V、

晶体管测试仪

3

电性

2、最大反向电流(+25℃)值为 0.025μA,*均输 CR

稳压电源

出电流(+75℃)值为 150mA

3、工作温度范围为-65℃to+125℃

万用表

用 40W 烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放

烙铁

4

可焊性

MA

在 230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

小锡炉

1、所用材料与样品相符。

目测、对比

5

材料

MA

2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

样品

1、包装材料用料正确。 2、小包装方式、数量无误。 6 包装标识 3、装箱方式、数量无误。 4、(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

实用大全

拟制: 日期

标准文档
审核: 日期

批准: 日期

来料检验标准
二极管(6A10)
抽样来料检验标准:

版 本:第三版

文件编号:WI/HV-12-011

受控状态:

修 改 页:

第 11 页

共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

二极管:: 6A10

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

检验方法

丝印 负极标志及字符丝印是否清晰可辩。

MI

1 外观

元件体 元件体引脚是否氧化,是否有毛刺和破损。

MI

目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图;符合实际装配。

MA

钢尺或游标卡尺

4. 用晶体管测试仪先后测试二极管正向压降:0.95V

(MAX)和反向耐压:6A10>1000V

晶体管测试仪

3 电性 5. 6A10 在最大反向电压下其最大反向电流值为 10μA

CR

(+25℃),*均输出电流值为 1.0mA(+100℃)

6. 工作温度范围为-55℃to+150℃

稳压电源 万用表

用 40W 烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4 可焊性

MA

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

烙铁 小锡炉

1、 所用材料与样品相符。 5 材料
2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。 1、 包装材料用料正确。 包装 2、小包装方式、数量无误。 6 标识 3. 装箱方式、数量无误。 4. (内包装、外箱)标识单内容正确。
实用大全

MA 目测、对比样品

MI

目测

拟制: 日期

审核: 日期

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批准: 日期

来料检验标准
快速恢复二极管 FR107
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-012 受控状态: 修 改 页: 第 12 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

二极管:
序 检验 号 项目

FR107

DO-41 检验标准及要求

AQL 检验方法

1 外观

丝印 元件体

负极标志及字符丝印是否清晰可辩。

MI

元件体引脚是否氧化,是否有毛刺和破损。 MI

目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图。

MA

1.用晶体管测试仪(10mADC)测试二极管正向压降 VF≤0.7V, 反向耐压:FR107≥1000V(工作温度范围-65℃~+150℃).
3 电性 2.用万用表先后测量二极管最大反向电流 IRM=5.0μA(25℃)与 CR *均输出电流 IO=1A(75℃)

钢尺 游标卡尺
晶体管 测试仪 稳压电源 万用表

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230±5℃锡炉

4 可焊性

MA

中,一次上锡面积大于 85%。

烙铁 小锡炉

1所用材料与样品相符。 5 材料
2与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

目测、对比 MA
样品

实用大全

标准文档

1包装材料用料正确。 2小包装方式、数量无误。 6 包装标识 3装箱方式、数量无误。 4(内包装、外箱)标识单内容正确。

拟制: 日期

审核: 日期

MI

目测

批准: 日期

来料检验标准
快速恢复二极管 HER303
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-013 受控状态: 修 改 页: 第 13 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

二极管:
序 检验 号 项目

HER303

DO-27 检验标准及要求

AQL

检验方法

1 外观

丝印 负极标志及字符丝印是否清晰可辩。

MI

元件体 元件体引脚是否氧化,是否有毛刺和破损。 MI

目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图。

MA

1.用晶体管测试仪(10mADC)测试二极管正向压降 VF≤

0.7V,反向耐压:FR≥200V(工作温度范围-65℃~

3 电性

+150℃).

CR

2.用万用表先后测量二极管最大反向电流 IRM=5.0μ A(25℃)与*均输出电流 IO=1A(75℃)

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230±5℃

4 可焊性

MA

锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

钢尺或游标卡尺
晶体管测试仪 稳压电源 万用表
烙铁 小锡炉

1所用材料与样品相符。 5 材料
2与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
实用大全

MA 目测、对比样品

标准文档
1包装材料用料正确。 2小包装方式、数量无误。 6 包装标识 3装箱方式、数量无误。 4(内包装、外箱)标识单内容正确。

拟制: 日期

审核: 日期

MI

目测

批准: 日期

来料检验标准
12V 稳压二极管类
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-014 受控状态: 修 改 页: 第 14 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

序号

检验 项目

检验标准及要求

AQL

丝印 负极标志及字符丝印是否清晰可辩。

MI

1 外观

元件体 元件体引脚是否氧化,是否有毛刺和破损。 MI

检验方法 目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图。

MA

钢尺或游标卡尺

按下图将稳压管电流调整在 5mA 时,其 12V 的 稳压管的允许稳压范围值在 11.4V---12.7V 为 正常(1 分钟内无损坏)

晶体管测试仪

3 电性

稳压电源 CR
万用表

稳压电源

示波器

V

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4 可焊性

MA

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

实用大全

烙铁 小锡炉

标准文档

1、 所用材料与样品相符。

5 材料

MA

2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

1、 包装材料用料正确。

包装 2、 小包装方式、数量无误。

6

MI

标识 3、 装箱方式、数量无误。

4、 (内包装、外箱)标识单内容正确。

拟制: 日期

审核: 日期

批准: 日期

目测、对比样品 目测

实用大全

标准文档
来料检验标准
18V 稳压二极管
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-015 受控状态: 修 改 页: 第 15 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

序号

检验 项目

检验标准及要求

AQL

丝印 负极标志及字符丝印是否清晰可辩。

MI

1 外观

元件体 元件体引脚是否氧化,是否有毛刺和破损。 MI

检验方法 目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图。

MA

钢尺或游标卡尺

按下图将稳压管电流调整在 5mA 时,其 18V 的 稳压管的允许稳压范围值在 16.8.V---19.1V 为 正常(1 分钟内无损坏)

3 电性

晶体管测试仪

稳压电源

CR

万用表

稳压电源

示波器

V

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4 可焊性

MA

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

1、 所用材料与样品相符。

5 材料

MA

2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

烙铁 小锡炉
目测、对比样品

1、 包装材料用料正确。 包装 2、小包装方式、数量无误。 6 标识 3、装箱方式、数量无误。
4、(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制: 日期
实用大全

审核: 日期

批准: 日期

标准文档

来料检验标准
27V 稳压二极管
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-016 受控状态: 修 改 页: 第 16 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

丝印 负极标志及字符丝印是否清晰可辩。

MI

1 外观

元件体 元件体引脚是否氧化,是否有毛刺和破损。 MI

检验方法 目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图。

MA

钢尺或游标卡尺

按下图将稳压管电流调整在 5mA 时,其 27V 的 稳压管的允许稳压范围值在 25.1V---28.9V 为 正常(1 分钟内无损坏)

3 电性

晶体管测试仪

稳压电源

CR

万用表

稳压电源

示波器

V

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4 可焊性

MA

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

1、所用材料与样品相符。

5 材料

MA

2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

烙铁 小锡炉
目测、对比样品

1、 包装材料用料正确。 包装 2、 小包装方式、数量无误。 6 标识 3、 装箱方式、数量无误。
4、 (内包装、外箱)标识单内容正确。

拟制: 日期
实用大全

审核: 日期

MI

目测

批准: 日期

标准文档

来料检验标准
1/2W 稳压管
抽样来料检验标准:

版 本:第三版

文件编号:WI/HV-12-016A

受控状态:

修 改 页:

第 16 A 页

共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

1/2W 参数

稳压值(V)
3 3.3 3.6 3.9 4.3 4.7 5.1 5.6 6.2 6.8 7.5 8.2 9.1 10 11 12 13 15 16 18 20 22 24 27 30 33 36 39

稳压值范围(精度±5﹪)
2.85~3.15 3.13~3.47 3.42~3.78 3.7~4.1 4.08~4.52 4.46~4.94 4.84~5.36 5.32~5.88 5.89~6.51 6.46~7.14 7.12~7.88 7.79~8.61 8.64~9.56 9.5~10.5 10.45~11.55 11.4~12.6 12.35~13.65 14.25~15.75 15.2~16.8 17.1~18.9
19~21 20.9~23.1 22.8~25.2 25.65~28.35 28.5~31.5 31.35~34.65 34.2~37.8 37.05~40.95

拟制:

审核:

稳压值(V)
43 47 51 56 62 68 75 82 91 100

稳压值范围 40.85~45.15 44.65~49.35 48.45~53.55 53.2~58.8 58.9~65.1 64.6~71.4 71.25~78.75 77.9~86.1 86.45~95.55
95~105
批准:

实用大全

日期

日期

标准文档

日期

实用大全

标准文档
来料检验标准
三端精密稳压器(431BCZ)
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-017 受控状态: 修 改 页: 第 17 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

精密稳压器: IC2 LM431BCZ TO-92

序号

检验 项目

检验标准及要求

AQL

丝印 丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。 MI

检验方法 目测

1 外观

检查三极管的引脚是否氧化,元件体是否

元件体

MI

有毛刺和破损。

目测

2 尺寸 符合产品工程图,符合实际装配。

MA

游标卡尺

1 稳压值检测,偏差±1%。
2K

晶体管测试仪

3 电性

2.5V±1% V

2、阴极电压 VKA≥36V。

万用表

MA

12V

稳压电源

示波器

3、IKA≥100mA

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4 可焊性

MI

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

烙铁 小锡炉

1 所用材料与样品相符。

5 材料

MA

2 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

目测

1 材料用料正确。 2 小包装方式、数量无误。 6 包装标识 3 装箱方式、数量无误。 4(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制: 日期
实用大全

审核: 日期

批准: 日期

标准文档

来料检验标准
三端稳压器

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-018 受控状态: 修 改 页: 第 18 页 共 53 页

抽样来料检验标准:依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 序 检验 号 项目
丝印

MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

检验标准及要求

AQL

丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。 MI

检验方法 目测

1 外观

检查三极管的引脚是否氧化,元件体是否

元件体

MI

有毛刺和破损。

目测

2 尺寸 符合产品工程图;符合实际装配。

MA

钢尺或游标卡尺

1. 将三端稳压器接在调压稳压电源上,调稳压电源 至 7-20V 电压,为三端稳压器输入电压,并测出

其输出为 5.0± 0. 2 V。(精度为±4﹪)

2. 稳压管满负载连续工作 2 小时,温升测试应小于 50℃
3 电性 3. 分别于 100CM 高度自由跌落三次,湿度达 93%± MA 3%,其输出电压为 5.0± 0. 2 V。
4、将其接在调压稳压电源上,调稳压电源测出三端

晶体管测试仪 万用表 稳压电源 示波器

5、稳压器的输入电压稳压范围,并测出其稳压值。

6、 带负载能力,在电路里串入负载和电流表,调到 电流为 1A 左右,测出其输出电压。

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4 可焊性

MI

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

5

材料

1. 所用材料与样品相符。 2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

烙铁 小锡炉 目测、对比样品

1. 材料用料正确。

6

包装 标识

2. 小包装方式、数量无误。 3. 装箱方式、数量无误。

4. (内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制:

审核:

批准:

实用大全

日期

日期

标准文档

日期

来料检验标准

抽样来料检验标准:

三端稳压器

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-018A 受控状态: 修 改 页: 第 18 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

三端稳压块参数

测试条件

7805/(78L05) 最小、典型、最大

7812 最小、典型、最大

7924 最小、典型、最大

V1

10

19

33

V0(空载)

4.9 5.0 5.1 11.75 12 12.25 23.5 24

24.5

V0(负载)

4.8 5V 5.2 11.5

12 12.5 23

24 25

实用大全

拟制: 日期

标准文档
审核: 日期

批准: 日期

抽样来料检验标准:

来料检验标准
接收头

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-019 受控状态: 修 改 页: 第 19 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

序号

检验 项目

检验标准及要求

AQL

丝印 丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。 MI

检验方法 目测

1 外观

引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、

元件体

MI

划伤。

目测

2 尺寸 符合产品工程图

MA

钢尺或游标卡尺

1. 把其接在测试板上,用遥*鞔痈鞲龇轿灰?兀

看它的接受性能,接收角度为 60°。

3 电性

CR

2. 将测试板放在日光灯下(距离很*),再用遥*

遥控,看其的抗干扰能力,接收距离>3M。

遥* 测试夹具

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4 可焊性

MI

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

1. 所用材料与样品相符。

5 材料

MA

2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

烙铁 小锡炉
目测、对比样品

1. 材料用料正确。 包装 2. 小包装方式、数量无误。 6 标识 3. 装箱方式、数量无误。
4. (内包装、外箱)标识单内容正确。
实用大全

MI

目测

拟制: 日期

标准文档
审核: 日期

批准: 日期

抽样来料检验标准:

来料检验标准
接收头

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-019A 受控状态: 修 改 页: 第 19A 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

接收头参数

实用大全

标准文档

参数名称 静态电流 IS 工作电压 VS 接收距离 L1 接收距离 L2 接收距离 L3 载波频率 f0 接收波长
λp 高电*输出电压 VH 低电*输出电压 VL

最小值 1.1mA 4.7V 10m
8m 4m
4.5V

典型值
5.0V 12m 9m 6m 38KHZ 940nm

最大值 2.8mA 5.3V

条件 无信号 无信号 α=0° α>30℃ α>45℃

0.5V

拟制: 日期

审核: 日期

批准: 日期

来料检验标准
轻触按键/防水按键
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-020 受控状态: 修 改 页:A 第 20 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

实用大全

标准文档

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

标识 标识是否与来料相符。

MI

1 外观

引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破

元件体

MI

损、划伤。

检验方法 目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图

MA

从五个方向按下按键(垂直方向按下,左、右、前、

后 45 度按下按键),用毫欧表测试其接触电阻,

3 电性 应小于 150mΩ。

CR

↓↘







1■ 2■ 3■ 4 ↑ 5●

4

机械 1. 用数字天*秤测试,满足标称按键力参数值。 性能 2. 元件体侧面受力大于 3Kg 无损伤。

CR

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

5 可焊性

MI

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

钢尺或游标卡尺
毫欧表 LCR
数字天* 烙铁 小锡炉

1. 所用材料与样品相符。

6 材料

MA

2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

目测、对比样品

1. 材料用料正确。 包装 2. 小包装方式、数量无误。 8 标识 3. 装箱方式、数量无误。
4. (内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制:

审核:

批准:

日期

日期

日期

来料检验标准
轻触按键/防水按键

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-020A 受控状态: 修 改 页: 第 20A 页 共 53 页

抽样来料检验标准:

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.4

实用大全

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷

标准文档
CR:致命缺陷

开关参数

项目

测试条件

规格

接触电阻 在微小电流(100mA)以下测试。

<100Mω

绝缘电阻 耐电压
端子强度 可焊性 试验 耐焊性 试验
寿命试验
耐热试验 耐冷试验

输入 100VDC 电压 1 分钟,按以下接触方法测试①接 触端子之间;②胶座体与挑脚之间。

>100MΩ

输入 AC250V(50~60HZ)电压 1 分钟,测试电流为 0.5mA,按以下接触方法测试: ①脚相互之间;②挑 脚与外壳之间。 在任意一个方向的侧端加上(3000g)力度,测试时间 为 1 分钟。

没有绝缘破损异常。
在端子中没有裂开、松 动等异常,满足于机械 电器性能

端子顶部被浸入锡炉中 1mm 深处,温度为 230±1℃, 时间为 3±0.5。

焊接面积要有 75%以上。

1. 锡炉焊接的时候温度应控制在 260±5℃,过炉 时间为 3±0.5 秒,基板厚度为 1.0mm。
2. 手焊接的时候,温度控制.320±5℃时间为 3±0.5 秒。
无负荷:操作者以每分钟 60 次的频率,100000 次 无负荷测试。

本体无变形,满足于机 械,电气性能。
1. 接触电阻不能超于 200mΩ。
2. 其它应满足于机械、 电气性能。

放置温度 85±2℃中测试 96 小时后再放置正常室温 中 1h 来测定。
放置温度-25±3℃中 96 小时后再放置常温中 1 小时 来测定。

外观无异常,满足于机 械电器性能。

拟制: 日期
实用大全

审核: 日期

批准: 日期

来料检验标准
背光源

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-021 受控状态: 修 改 页:

抽样来料检验标准:

标准文档

第 21 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

丝印 丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。 MI

元件体 元件体是否有毛刺、破损、开裂口等。

MI

黑点杂质:

Ф=(A+B)/2。 MA
Ф≤0.1 ㎜,允收。

Ф≤0.15 ㎜允许 2 点,且相间距大于 5 ㎜允收。

划痕:

宽度≤0.02 ㎜,允收。

MA

宽度≤0.04 ㎜,长度≤3.0 ㎜ 不多于 2 条允收。

透光点: 1 外观 Ф≤0.2 ㎜半透点,允收。
MA Ф≤0.25 ㎜半透点允许 2 点,且相间距大于 5 ㎜允收。

Ф≥0.15 ㎜全透点,拒收。

花状斑纹:

S≤2×2 ㎜半透块一处,允收。

MA

S≤2×1.5 ㎜全透块,拒收。

共 53 页
检验方法 目测 目测
量规
量规
量规
游标卡尺

PCB 封装: 要求选用双面板。 PCB 面高出胶壳面小于 0.3mm。

MA

游标卡尺

拟制: 日期
实用大全

审核: 日期

批准: 日期

来料检验标准

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-021 受控状态:

抽样来料检验标准:

背光源

标准文档

修 改 页:A 第 21A 页

共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

序 检验 号 项目

检验标准及要求

引出线及焊点:

AQL

检验方法

1.采用优质胶质 30#多股镀锌铜芯线,开线 3.0mm

1 外观

镀锡。如支架型则长度为 7.0±0.5mm。

MA

目测

2.采取穿孔反面焊接方式,正面焊接的则需加*

固定。

2 尺寸 符合产品工程图

MA 钢尺或游标卡尺

1.用稳压直流电源输入 3V(兰光 3.2V)电压,测试

电性

其晶片点亮是否有颜色不正确、缺亮、漏光等。

2.亮度:同一板面前后亮度一致性差别不大于 10%,

3

CR

发光

与封样亮度相差不大于 9%。

特性 3.色差:同一批不允许有色差,批与批之间色差不

大于 15%。

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4 可焊性 ±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

MI

稳压电源 目测
烙铁 小锡炉

1.所用材料与样品相符。 5 材料
2.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。 1.材料用料正确。 包装 2.所有兰光、紫光材料均用防静电包装。 6 标识 3.小包装方式、数量无误。 4.(内包装、外箱)标识单内容正确。

MA 目测、对比样品

MI

目测

拟制: 日期

审核: 日期

批准: 日期

实用大全

来料检验标准

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-022

标准文档

电解电容类

受控状态: 修 改 页: 第 22 页

共 53 页

抽样来料检验标准:依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

电解电容:

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

丝印 丝印是否清晰可辩,负极标志、丝印标识是否与来料相符。 MI

检验方法
目测

1 外观

引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤,有无液体

元件体

MI

渗出,有无防爆缺口。

目测

2 尺寸 符合产品工程图;符合实际装配。

MA 钢尺或游标卡尺

1. 根据所测电容器容量在电容测试仪设置标准容量,根据电容正负偏

差设置上下偏差,然后根据电容的标称耐压来设定损耗角,最后夹

上待测电容,“PASS”灯亮表示为合格。

2. 施加额定电压,用漏电流测试仪,施加额定电压 2 分钟/25℃ ,测

3 电性

出其漏电流,根据此电容种类漏电流标准 I<KCU 判断其是否合格。
CR
K:0.01-0.03;C:电容量;U:额定电压值

3. 用晶体管测试仪测出电容器的耐压值 1.5Ur。

4. 常温下测试其电容损耗角≤0.14(0.2 或 0.16)

晶体管测试仪 电容测试仪
万用表 稳压电源 漏电流测试仪

5. 将其入 95℃-105℃烘干箱或-18℃以下冰箱内 2 小时,取出测量容

量 470UF(2200 UF)±20%。

使用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230±5℃锡炉中,

4 可焊性

MI

一次上锡面积大于 85%。

烙铁 小锡炉

1、所用材料与样品相符。
5 材料
2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

目测、对比样品

1、材料用料正确。

包装 2、小包装方式、数量无误。
6
标识 3、装箱方式、数量无误。

MI

目测

4、(内包装、外箱)小标签内容正确。

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来料检验标准
电解电容类
抽样来料检验标准:

版 本:第三版

文件编号:WI/HV-12-022

受控状态:

修 改 页:

第 22 A 页

共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

电解电容参数

项目

特性参照

耐电压 1.5Ur :Ur=25V(10V 或 16V)DC

使用温度 范围

-25℃+105℃

电容量 允许偏差

±20%(20℃

100/120HZ)

漏电流

LC≤0.03CV+10 取较大值,施加额定工作电压 2 分钟(25℃)

C:标称静电容量(UF) V、额定工作电压(V) LC:漏电流(UA)

UR(V) 6.3 10 16

25

35 50

63 100

160-450

损耗角 正切值 tgδ

tgδ 0.24 0.20 0.16 0.14 0.12 0.10 0.09 0.08 标称容量超过 1000Uf,则每增加 1000uF,损耗角正切值增加 0.02。 以上参数只属于 CD110 型号的电解电容。

0.08

电解电容漏电流计算公式: I = K·C·U 漏电流=系数×容量×电压
例:470uF

0.01×470×25=117.5uA

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来料检验标准
三极管(BU406 开关管)
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-023 受控状态: 修 改 页: 第 23 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷

序 检验 号 项目

1 外观

丝印 元件体

MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

检验标准及要求

AQL

丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。

MI

检查三极管的引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损。 MI

检验方 法 目测
目测

2 尺寸 符合产品工程图

MA 游标卡尺

7、按三极管的管脚排列把其插到晶体管测试仪测上,测出三极管

的放大倍数为 95±5 倍。

8、用晶体管测试仪测量各类三极管的集-发射极击穿电压 VCEO

3 电性 (200V),集-基极击穿电压 VCBO(400V),发射结反向耐压 VEBO MA

(6V)。

9、在 Ic=5A,Ib=0.5A 条件下,BU406 的 Vce≤ 1V,Vbe≤1.2V。

(工作温度范围-55℃~+150℃)

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230±5℃锡炉中,

4 可焊性

MI

一次上锡面积大于 85%。

晶体管 测试仪 万用表 稳压电

烙铁 小锡炉

1、 所用材料是否已被确认的供应商提供且与样品相符。 5 材料
2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

目测、对 MA
比样品

1、 材料用料正确。
包装 2、 小包装方式、数量无误。 6
标识 3、 装箱方式、数量无误。
4、 (内包装、外箱)标识单内容正确。

MI 目测

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来料检验标准
4N60(4A600V-N)场效应管
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-024 受控状态: 修 改 页: 第 24 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

序号

检验 项目

检验标准及要求

AQL

丝印 丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。 MI

检验方法 目测

1 外观

检查三极管的引脚是否氧化,元件体是否

元件体

MI

有毛刺和破损。

目测

2 尺寸 符合产品工程图

MA

钢尺或游标卡尺

1、关断电阻测量(短接 G、S 极)测量 D→S 电阻应

﹥100mΩ。

3 电性 2、耐压测试(短接 G、S 极)测量 DS 电压应﹥650V。

MA

3、G 极正偏时 D-S 电阻应<2Ω。

其余按常规检测。

晶体管测试仪 万用表 稳压电源

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4 可焊性

MI

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

1、 所用材料与样品相符。

5 材料

MA

2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

烙铁 小锡炉
目测、对比样品

1、 材料用料正确。 包装 2、 小包装方式、数量无误。 6 标识 3、 装箱方式、数量无误。
4、 (内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

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来料检验标准
C1815 三极管
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-025 受控状态: 修 改 页: 第 25 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

三极管 :A1815 序 检验 号 项目
丝印

TO-92

检验标准及要求

AQL

丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。 MI

检验方法 目测

1 外观

检查三极管的引脚是否氧化,元件体是否有

元件体

MI

毛刺和破损。

目测

2 尺寸 符合产品工程图

MA

游标卡尺

1 按照三极管的管脚排列把其插到晶体管测试仪测上,测量出

三极管的放大倍数 100-200 倍。

2 用晶体管测试仪测量各类三极管的集-发射极击穿电压 VCEO

3 电性

MA

≥50V,发射结反向耐压 VEBO≥5V。

3 常温下连续工作 2 小时温升小于 10℃(贮存三极管温度范围

-65~150℃)

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230±

4 可焊性

MI

5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

晶体管测试 仪
万用表 稳压电源
烙铁 小锡炉

1 所用材料与样品相符。 5 材料
2 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

目测

1 材料用料正确。 2 小包装方式、数量无误。 6 包装标识 3 装箱方式、数量无误。 4(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制:

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日期

日期

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日期

来料检验标准
2N5401 三极管
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-026 受控状态: 修 改 页: 第 26 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

三极管 : 2N5401



检验



项目

丝印

TO-92

检验标准及要求

AQL

丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。 MI

检验方法 目测

1

外观

检查三极管的引脚是否氧化,元件体是否

元件体

MI

有毛刺和破损。

目测

2

尺寸 符合产品工程图

MA

游标卡尺

1 按三极管的管脚排列把其插到晶体管测试仪测上,测量出

三极管的放大倍数 60-150 倍。

晶体管测试仪

2 用晶体管测试仪测量各类三极管的集-发射极击穿电压

3

电性

MA

万用表

VCEO≥160V,发射结反向耐压 VEBO≥6V。

稳压电源

3 在常温下连续工作 2 小时温升小于 10℃(贮存三极管温度

范围-65~150℃)

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4

可焊性

MI

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

烙铁 小锡炉

1 所用材料与样品相符。

5

材料

MA

2 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

目测

1 材料用料正确。 2 小包装方式、数量无误。 6 包装标识 3 装箱方式、数量无误。 4(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

实用大全

拟制: 日期

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来料检验标准
A1015 三极管
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-027 受控状态: 修 改 页: 第 27 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

三极管 : A1015

TO-92

序号

检验 项目

检验标准及要求

AQL

丝印 丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。 MI

检验方法 目测

1 外观

检查三极管的引脚是否氧化,元件体是否有

元件体

MI

毛刺和破损。

目测

2 尺寸 符合产品工程图

MA

游标卡尺

1 按照三极管的管脚排列把其插到晶体管测试仪测上,测量出

三极管的放大倍数 100-200 倍。

晶体管测试仪

2 用晶体管测试仪测量各类三极管的集-发射极击穿电压 VCEO

3 电性

MA

万用表

≥50V,发射结反向耐压 VEBO≥5V。

稳压电源

3 常温下连续工作 2 小时温升小于 10℃(贮存三极管温度范围

-65~150℃)

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230±

4 可焊性

MI

5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

烙铁 小锡炉

1 所用材料与样品相符。 5 材料
2 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

目测

实用大全

标准文档
1 材料用料正确。 包装 2 小包装方式、数量无误。 6 标识 3 装箱方式、数量无误。
4(内包装、外箱)标识单内容正确。

拟制: 日期

审核: 日期

MI

目测

批准: 日期

来料检验标准
2N5551 三极管
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-028 受控状态: 修 改 页: 第 28 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

三极管 : 2N5551

序号

检验 项目

丝印

TO-92

检验标准及要求

AQL

丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。 MI

检验方法 目测

1

外观

检查三极管的引脚是否氧化,元件体是否

元件体

MI

有毛刺和破损。

目测

2

尺寸 符合产品工程图

MA

游标卡尺

1 按照三极管的管脚排列把其插到晶体管测试仪测上,测量

出三极管的放大倍数 60-150 倍。

晶体管测试

2 用晶体管测试仪测量各类三极管的集-发射极击穿电压

3

电性

MA

VCEO≥150V,发射结反向耐压 VEBO≥6V。

仪 万用表

3 在常温下连续工作 2 小时温升小于 10℃(贮存三极管温度

稳压电源

范围-65~150℃)

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4

可焊性

MI

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

1 所用材料与样品相符。

5

材料

MA

2 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

烙铁 小锡炉
目测

实用大全

标准文档
1 材料用料正确。 2 小包装方式、数量无误。 6 包装标识 3 装箱方式、数量无误。 4(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制: 日期

审核: 日期

批准: 日期

来料检验标准
三极管类 S8050
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-029 受控状态: 修 改 页: 第 29 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

三极管 : S8050

序号

检验 项目

丝印

检验标准及要求

AQL

丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。 MI

检验方法 目测

1 外观

检查三极管的引脚是否氧化,元件体是否有

元件体

MI

毛刺和破损。

目测

2 尺寸 符合产品工程图;符合实际装配。

MA

游标卡尺

1.按三极管的管脚排列把其插到晶体管测试仪测上,

测出三极管的放大倍数,β=150-300.

2.用晶体管测试仪测量各类三极管的集-发射极击穿

晶体管测试仪

3 电性

电压 VCEO≥30V,集-基极击穿电压 VCBO≥40V, MA

万用表

发射结反向耐压 VEBO≥6V。

稳压电源

3.在线路板上连续工作 2 小时 S8050 温升≤10℃(贮

存三极管温度范围-65~150℃)

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4 可焊性

MI

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

烙铁 小锡炉

实用大全

标准文档
1 所用材料与样品相符。 5 材料
2 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

目测

1 材料用料正确。 包装 2 小包装方式、数量无误。 6 标识 3 装箱方式、数量无误。
4(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制: 日期

审核: 日期

批准: 日期

来料检验标准
三极管类 S8050
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-029A 受控状态: 修 改 页: 第 29A 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

附:三极管参数

实用大全

参数符号 Hfe Vce Vbc Vbe Bvcbo Bvceo Bvebo Icbo Iebo

符号说明

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最小值

直流电流增益

64

集电极—发射极饱和压降

基极—发射极饱和压降 基极—发射极电压 集电极—基极击穿电压 集电极—发射极击穿电压 发射极—基极击穿电压

0.60 40 30 6

集电极—基极载止电流

发射极—基极载止电流

典型值 160 0.28 0.91 0.67

最大值 单位

300

0.5

V

1.2

V

0.7

V

V

V

V

100

mA

100

mA

拟制:

审核:

批准:

日期

日期

日期

来料检验标准
继电器

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-030 受控状态: 修 改 页: 第 30 页 共 53 页

抽样来料检验标准:依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

继电器: JZC-32F 009-HSQ 四脚 10A250V

实用大全

.00………………

序号 1

检验 项目
外观

标准文档

检验标准及要求

AQL

丝印 丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。

MI

元件体 引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤。 MI

检验方法 目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图;符合实际装配。

MA

1.使用毫欧表测出继电器的接触电阻,阻值应在 100mΩ

以下。

2.用万用表测出继电器的线圈电阻,根据来料的参数确

认其是否合格。

3.用耐压测试仪测量继电器的触点与触点、触点与线圈

3 电性

之间的电压是否符合来料给定参数值。

CR

4.用可调稳压电源给继电器的线圈引脚加上电压,调节

电压测出继电器的吸合电压和释放电压。

5.使用绝缘电阻测试仪测出继电器的强电端对外壳绝缘

电阻,应大于 100MΩ。

6.以上参数见下表图。

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230±5℃

4 可焊性

MI

锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

1. 所用材料与样品相符。

5 材料

MA

2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

1. 材料用料正确。

包装 2. 小包装方式、数量无误。

6

MI

标识 3. 装箱方式、数量无误。

拟制:

4、(内包装、外箱)标识单内容正确。
审核:

批准:

日期

日期

日期

钢尺或游标卡尺
晶体管测试仪 绝缘电阻测试
仪 毫欧表 稳压电源
烙铁 小锡炉 目测、对比样

目测

实用大全

抽样来料检验标准:

标准文档
来料检验标准
继电器

版 本:第三版

文件编号:WI/HV-12-030A

受控状态:

修 改 页:

第 30A 页

共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

继电器参数

线圈额定电压 线圈电阻 吸合电压 释放电压 绝缘电阻
抗电强度
电气寿命
机械寿命

项目 9V.DC 根据给定额定电压参数所定 6.8VDC MAX 0.9VDC MIN 100MΩ (at500VDC) 触点间(500-700)V AC 1min 50/60HZ. 触点与线圈间 1800V AC 1min 50/60HZ 1*105 次,频率 20 次/分
1*107 次,频率 300 次/分

拟制: 日期
实用大全

审核: 日期

批准: 日期

标准文档 实用大全

标准文档
来料检验标准
磁簧管(MKA14103-AT 值 20-25)
抽样来料检验标准:

版 本:第三版
文件编号:WI/HV-12-031
受控状态: 修 改 页: 第 31 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0

MI:次要缺陷

序号

检验 项目

MA:主要缺陷 CR:致命缺陷
检验标准及要求

AQL

检验方法

丝印 丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符

MI

目测

1 外观

引脚(*穑┦欠裱趸迨欠袼鸹蚬紊,

元件体

MI

玻璃外观、封装是否破坏

目测

2 尺寸 外形尺寸是否符合产品工程图。

MA 钢尺或游标卡尺

触点形式 1A SPST-NO 触点材质

最大开关 Ru
电压

100VDC

最大开关

触点位置

SYM

触点负载

10W

电流

0.5A

主要 触点电阻

3

(初始值)

参数

100mΩ

工作温度 -60~+125℃
范围

电器寿命

5VDC,10mA 5×108

释放值 启动值 谐振频率

5AT

触点电容

0.7pF

10-35AT

耐高压

220VDC(AT〈25) 250VDC(AT〉25)

4KHz

绝缘电阻

1010Ω

电能

4

利用磁环浮子进行试验,不应出现二次接通现象

试验

CR

目测,对比样品

5 材料 所用材料与样品相符

MA

目测、对比样品

1、 包装材料用料正确。
包装 2、小包装方式、数量无误。 6
标识 3、装箱方式、数量无误。
4、(内包装、外箱)标识单内容正确。

拟制:

审核:

日期

日期

实用大全

MI
批准: 日期

目测

标准文档

来料检验标准
工字磁芯电感 DR2W6*8-30μH 或 33μH)
抽样来料检验标准:

版 本:第三版
文件编号:WI/HV-12-032
受控状态: 修 改 页: 第 32 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0

MI:次要缺陷

序号

检验 项目

MA:主要缺陷 CR:致命缺陷 检验标准及要求

AQL

检验方法

丝印 标识是否与来料相符

1 外观

引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损 MI

元件体

或刮伤,整个线圈用热缩管包裹

目测

2 尺寸 外形尺寸是否符合产品工程图。

MA 钢尺或游标卡尺

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230 3 可焊性
±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

烙铁 小锡炉

1、用 LCR 数字电桥测其电感量(见下表 5) 4 电性 2、温度范围-5℃~95℃内测量电感量(着重测量 CR
95℃)

LCR 数字电桥

电 感L

30μH 或 33μH± 15%

测试仪器

5

圈 数T

30--32

测试频率 f

LCR 电桥 1KHz/0.25V

线 径Φ

0.45mm

5 材料 镁合金,高频-45 材料(黑色),所有样品与材料相符 MA 目测、对比样品

1. 包装材料用料正确。 包装 2. 小包装方式、数量无误。 6 标识 3. 装箱方式、数量无误。
4. (内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制: 日期
实用大全

审核: 日期

批准: 日期

标准文档

来料检验标准
绕线空心高频电感(T50-26-100μH)
抽样来料检验标准:

版 本:第三版
文件编号:WI/HV-12-032
受控状态: 修 改 页: 第 33 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

绕线空心电感:100μH±20%

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损

1 外观 元件体

MI

或刮伤及脱漆现象。

检验方法 目测

2 材质 磁芯采用 T50-26,材料采用“黄白型”材料,密绕

MA 钢尺或游标卡尺

8mm Max

15mm Max
1.5mm MAX 6mm±1.5

3 尺寸

MA 钢尺或游标卡尺

0.5mm ±0.1

4 电性 用 LCR 数字电桥测其电感量。(见下表 4)

CR LCR 数字电桥

主要技术参数

4

电 感L

圈 数T

100μH±20% 50

线 径Φ

QA130℃ 0.5mm

测试仪器 测试频率 f

LCR 电桥 1KHz

5 材料 所用材料与样品相符

MA 目测、对比样品

1. 包装材料用料正确。 包装 2. 小包装方式、数量无误。 6 标识 3. 装箱方式、数量无误。
4. (内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制:

审核:

批准:

实用大全

日期

日期

标准文档

日期

来料检验标准
工字电感(DR3W*10-900μH)
抽样来料检验标准:

版 本:第一版
版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-033
修 改 页: 第 34 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

绕线空心电感:

序 检验 号 项目
1 外观

检验标准及要求

AQL

引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损或

元件体

MI

刮伤及脱漆现象。整个线圈用热缩管包裹

检验方法 目测

2 材质 磁芯采用DR3W*10,材料采用PC40或2K3D材料,密绕料

MA 钢尺或游标卡尺

3.5mm
8±0.2mm 3.6±0.2mm

3 尺寸

3.5mm

1

2

3

3.5mm

2.0mm

大于5mm

6±0.2mm
10±0.2mm

MA 钢尺或游标卡尺

4 电性 用 LCR 数字电桥测其电感量。(见下表 5)

5 序号 名称 2-1 线圈
1-3 线圈

规格 Φ0.30mm Φ0.18mm

主要技术参数

匝数 50T 155T

电感量 82.5μH±10% 900μH±10%

6 材料 所用材料与样品相符

1、 包装材料用料正确。 包装 2、 小包装方式、数量无误。 7 标识 3、 装箱方式、数量无误。
4、 (内包装、外箱)标识单内容正确。

CR LCR 数字电桥

测试仪器 测试频率 f

LCR 电桥 1KHz

MA 目测、对比样品

MI

目测

实用大全

拟制: 日期

审核: 日期

标准文档

批准: 日期

抽样来料检验标准:

来料检验标准
保险管

版 本:第三版

文件编号:WI/HV-12-035

受控状态:

修 改 页:

第 35 页

共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=2.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

保险管:快熔、带焊脚

序 检验 号 项目

检验标准及要求

认证标志、标识是否清晰,是否与来料相符

AQL

检验方法

1 外观

丝印

(单帽/双帽,快熔/慢熔,是否有 3C 认证) F 代表快熔,T 代表慢熔,CCC 代表 3C 认证 FF 表示特快速/TT 表示特慢速/M 表示中速保险丝

MI

目测

保险管两端金属壳是否氧化,元件体是否有

元件体

MI

毛刺和破损、划伤。

目测

2 尺寸 符合产品工程图;符合实际装配。

MA

钢尺游标卡尺

将其接在调压稳压电源上,并串上电流表,接上负载调

电流表

3 电性 电源电压达到保险管的额定电流,用秒表测出刚达到保 CR

秒表

险管额定电流时到保险管熔断时的时间。

10A 稳压电源

1. 样品在 15℃~35℃水中浸入 24 小时后取出,在每个

机械

4

端帽上均匀施加拉力以 1kg 保持 60S,铜帽不应脱落。 MA

强度

2. 焊接铜帽时,管内和铜帽外表面不能有残留的助焊剂等异物。

拉力计

可焊 用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230±5℃

5

MA

性 锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

烙铁 小锡炉

1. 所用材料与样品相符。
6 材料
2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

对比样品

实用大全

标准文档
1. 材料用料正确。 包装 2. 小包装方式、数量无误。 7 标识 3. 装箱方式、数量无误。
4. (内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制: 日期

审核: 日期

批准: 日期

抽样来料检验标准:

来料检验标准
保险管

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-035A 受控状态: 修 改 页: 第 35A 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

实用大全

保险管技术参数: 电流额定值百分比 150% 210%
275%
400%

安培数值 32mA-5A 32mA-5A 32mA-100mA 125mA-5A 32mA-100mA 125mA-5A

标准文档
熔断时间 最小 3600 秒 小于 60 秒(最大 1800 秒) 最小 100 毫秒,最大 500 毫秒 最小 50 毫秒,最大 2 秒 最小 3 毫秒,最大 100 毫秒 最小 10 毫秒,最大 300 毫秒

额定电流(安培) 额定电压(伏特) 公称冷电阻(欧姆) 公称溶化热能额定值 Max.I2t

630mA

250

0.168

0.420

800mA

250

0.134

0.870

1A

250

0.096

1.07

1.25A

250

0.070

2.29

1.6A

250

0.046

4.74

2A

250

0.040

5.88

2.5A

250

0.033

9.72

3.15A

250

0.022

18.2

4A

250

0.016

30.0

5A

250

0.013

43.9

6.3A

250

0.0098

64.2

8A

250

0.0068

203.5

10A

250

0.0060

223.5

拟制: 日期

审核: 日期

批准: 日期

来料检验标准
安规电容

版 本:第三版

文件编号:WI/HV-12-036

受控状态:

修 改 页:

第 36 页

共 53 页

抽样来料检验标准:依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

实用大全

标准文档

安规电容: 0.047UF275V 0.1UF275V

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQ L

1 外观

丝印

丝印是否清晰可辩,有明确认证标志,是否标明 3C、UL、 MI
T?V 或 VDE 等认证标志。

引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤,封胶

元件体

MI

是否有气孔等。

检验方法 目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图;符合实际装配。

MA 游标卡尺

1. 根据所测试安规电容的容量在电容测试仪设置标准容量,根据

耐压测试

电容正负偏差设置上下偏差,然后依据电容标称电压值,设定



损耗角正切值,最后夹上待测电容,“PASS”灯亮表示合格。

电容测试

2. 施加标称电压,用漏电流测试仪测出其漏电流,根据电容标准



3 电性

CR

漏电流判其好与坏。环境温度达 105℃时,容量偏差≤±30%。

漏电流测

3. 用耐压测试仪测其极与外壳间的抗电强度是否达到参数要求,

试仪

极与极间是否达到 300VDC,然后放置绝缘电阻测试仪测其绝缘

绝缘电阻

电阻达到标称值的要求。(见下表)

测试仪

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230±5℃锡炉中,

4 可焊性

MI

一次上锡面积大于 85%。

烙铁 小锡炉

1. 所用材料与样品相符。 5 材料
2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

目测、对比 MA
样品

1. 材料用料正确

包装

6

2. 装箱方式、数量无误

标识

3. (内包装、外箱)标识单内容正确

MI 目测

拟制: 日期

审核: 日期

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实用大全

来料检验标准
安规电容

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-036A 受控状态: 修 改 页: 第 36A 页 共 53 页

标准文档
抽样来料检验标准: 依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.4 MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷
安规电容技术参数:

工作环境项目 容量允许误差
容量范围 额定电压
耐电压 损耗角正切 绝缘电阻

特性参数 -40℃~+100℃ K:±10%
0.1μF 275VAC 4.3UR DC/60S tgδ≤0.015 ≥30000MΩ

拟制: 日期
实用大全

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来料检验标准
蜂鸣器

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-037 受控状态: 修 改 页:

抽样来料检验标准:

标准文档

第 37 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=2.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

蜂鸣器: φ12mm 2.048KHZ 42Ω 无源

序号 1

检验 项目
外观

丝印 元件体

检验标准及要求

AQL

丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。 MI 引脚是否氧化,或有杂物;元件体是否有毛刺和破损、划伤。 MI

检验方法 目测 目测

2

尺寸 符合产品工程图;符合实际装配。

钢尺或游标卡
MA


1. 内阻 42±5Ω

2. 将蜂鸣器装入输出频率为 2048HZ 的线路板上,工作电压和

电流必须符合要求。(工作电压为 DC/AC:5V;电流为 DC:

90mA;AC:45mA)。(蜂鸣器还有 2730Hz/4KHz)

3. 将蜂鸣器装入专用检具,声压计距蜂鸣器为 10CM,声压调

为 85~90dB,其蜂鸣器工作频率应为 2048±100HZ

4. 将蜂鸣器装入输出频率为 2048HZ 测试板,测试其声压值,

3

电性

声压应为 85~90dB.

MA

5. 分别将其放于-10℃冰箱和 80℃内 2 小时取出插在使用的

电路板上,把声压计对准蜂鸣器,测出其发声时的频率声

压>85db。(每批测试 10PCS)

6. 手工浸水湿度为 93%±3% 2 小时取出插在使用的电路板上,

把声压计对准蜂鸣器,测出其发声时的频率声压>85db。

(每批测试 10PCS)

7. 加强抗震试验。

万用表 声压计 示波器

4

可焊性

用 40W 烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

MI

烙铁 小锡炉

5

材料

1. 所用材料与样品相符。 2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA 目测、对比样品

包装 1、材料用料正确。 2、小包装方式、数量无误。

6

3、装箱方式、数量无误。

MI

目测

标识 4、(内包装、外箱)标识单内容正确。

拟制: 日期

审核: 日期

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实用大全

来料检验标准

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-038 受控状态:

标准文档
线路板 - PCB
抽样来料检验标准:

修 改 页: 第 38 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

序号

检验 项目

检验标准及要求

丝印 丝印是否清晰可辩。

AQL

检验方法

CR

目测

焊盘是否氧化,PCB 是否有毛刺和破损、划

1

外观

伤、变形;走线是否有短路、开路现象;

元件体

CR 放大镜目测

绿油是否有破损;孔位是否符合技术要求

或偏孔现象。

2

尺寸 符合产品工程图,符合实际装配。

钢尺或游标卡
MA


把板放到波峰炉里,看其是否有变色,铜皮是否起泡,

3

耐温

MA

翘曲度是否达到要求。

波峰焊机

用火烧电路板,离开火源后看其是否能自燃(样品检

4

阻燃

MA

验用)。

喷涂助焊剂后一次锡炉浸锡,要求焊盘及露铜部分上

5 可焊性

MA

锡面积大于 85%(锡炉 240℃±5℃)。

酒精灯 浸锡炉

1. 所用材料与样品相符。

6

材料

2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

目测、对比样 MA


1. 材料用料正确。 2. 小包装方式、数量无误。 7 包装标识 3. 装箱方式、数量无误。 4. (内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

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实用大全

来料检验通用标准 版 本:第三版

标准文档
AI 机用的线路板孔径及工艺边定位孔的标准要求
抽样来料检验标准:

文件编号:WI/HV-12-039 受控状态: 修 改 页: 第 39 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

序号

检验 项目

检验标准及要求

AQL

1.线路板上 1/4W 与 1/2W 的电阻孔、跳线孔、二极管 1N4148

检验方 法

孔径设计为 0.9mm,丝印面和铜箔面杯口直径要求大于或

等于 0.9mm;小于 1.1mm。中间厚度 0.5mm 部分直径要求

针规

1 孔径 大于 0.825mm;小于 1mm。

CR

数字卡

2.线路板二极管 1N4007 孔径设计为 1.2mm,丝印面和铜



箔面杯口直径要求大于或等于 1.15mm;小于 1.4mm。中间

厚度 0.5mm 部分直径要求大于 1.1mm;小于 1.3mm。

工艺 工艺边上的圆形孔与椭圆形两个固定孔内壁不允许有批

2

MA

边定位孔 风及凹凸不*现象。

3 定位孔设计孔径标准如下图所示:

目测

圆孔及椭圆孔内壁不允许有批风及凹凸不*现象

固定孔 工艺边

椭圆孔

拟制: 日期
实用大全

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标准文档
来料检验标准
压电陶瓷片(雾化片)

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-040 受控状态: 修 改 页:
第 40 页 共 53 页

抽样来料检验标准:

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

压电陶瓷片(超声波雾化器):GFT25-16A(镀钛)

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

检验方法

丝印 丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符

MI

目测

1 外观

振子片及电极镀钛黄晶片是否损伤,元件体是

元件体

MI

否有毛刺、破损或刮伤

目测

2 尺寸 外形尺寸是否符合产品工程图。

MA 钢尺或游标卡尺

1. 把压电陶瓷片装在自制功能测试板上,测其工作时

谐振频率 Fr=1.7MHz±0.05MHz(谐振电阻 Ro≤2Ω)。

2. 用阻抗分析仪测其机电耦合系数 Kt≥50%,通过 LCR

电桥测其静态电容 Cp=1.85nF 允许误差 20%。

3 电性 3. 测试环境保持温度 23℃±3℃。

H

4. 当雾化板的输入工作电流为 0.66±0.02A 时,雾化

片的雾化量≥300ml/h。

5. 工作温度范围,使用水温 0~90℃(推荐水温 0~

25℃)。

LCR 数字电桥 万用表 温度计 电子秤

机械 θ=10°±2°时,导线拉力 400g<F<500g,θ=90°时,

4

MA

规格 导线拉力 200g<F<300g,θ为导线与陶瓷元件夹角。

拉力计

5 材料 所用材料与样品相符

MA 目测、对比样品

1、包装材料用料正确。 2、小包装方式、数量无误。 包装 3、装箱方式、数量无误。 6 标识 4、(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制:
实用大全

审核:

批准:

标准文档

日期

日期

来料检验标准

单联带固定柱电位器(5KΩ±10%)
抽样来料检验标准:

日期
版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-041
受控状态: 修 改 页: 第 41 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0

MI:次要缺陷
序 检验 号 项目

MA:主要缺陷 CR:致命缺陷 检验标准及要求

AQL

检验方法

丝印 丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符

MI

目测

1 外观

引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损或

元件体

MI

刮伤

目测

2 尺寸 外形尺寸是否符合产品工程图。

MA

钢尺或游标卡尺

1. 用万用表或 LCR 电桥测其阻值是否符合来料规格

标准要求 0Ω-5KΩ±10%。

2. 最大工作电压 AC200V。

3 电性

CR

3. 转动角为 300°±10°。

4. 寿命试验:最大到最小旋转至少 10000 圈,阻值

不应有突变或异常现象。

LCR 数字电桥 万用表 量角器

5 材料 所用材料与样品相符

MA

目测、对比样品

1. 包装材料用料正确。 包装 2. 小包装方式、数量无误。 6 标识 3. 装箱方式、数量无误。
4. (内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制: 日期
实用大全

审核: 日期

批准: 日期

标准文档

抽样来料检验标准:

来料检验标准
色环电感

版 本:第三版
文件编号:WI/HV-12-042
受控状态: 修 改 页: 第 42 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

色环电感:0410 -100μh ±10%

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

检验方法

丝印 丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符 MI

1 外观

引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损

元件体

MI

或刮伤

目测 目测

2 尺寸 外形尺寸是否符合产品工程图。

MA 钢尺或游标卡尺

3

电性

1. 用数字电桥测其电感量。(见下表 4) 2. 在温度范围-20℃~85℃内测试电感量(见下表 4)

CR

测试条件:常温下(22.2℃ ) 湿度为 49%

电感 L 4
IDC Max

100μh±10% 150mA(370Ma)

测试仪器 测试频率 f

DCR Max

4.4Ω(1.03Ω)

LCR 数字电桥 万用表
LCR 电桥 2.52MHz

5 材料 所用材料与样品相符

MA 目测、对比样品

1. 包装材料用料正确。 包装 2. 小包装方式、数量无误。 6 标识 3. 装箱方式、数量无误。
4. (内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

实用大全

拟制: 日期

审核: 日期

标准文档

批准: 日期

抽样来料检验标准:

来料检验标准
针座类

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-043 受控状态: 修 改 页: 第 43 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=2.5;MA:AQL= 1.5;CR:AQL=0.65

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

针座: CN3 B4B-XH(针高 12mm)、CN4 B5B-XH(白色)

序号

检验 项目

检验标准及要求

AQL

检验方法

丝印 标识是否与来料相符。

MI

目测

1

外观

针脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、

元件体

MA

划伤,插针是否歪斜,易于安装。

目测

2

尺寸 符合产品工程图,符合实际装配。

MA 钢尺或游标卡尺

1. 接通 AC1000V 1 分钟有无拉弧及打火现象,无则

耐压测试仪

3

电性

良好。

MA

绝缘电阻测试仪

2. 用绝缘电阻测试仪测试针座 R≥1000MΩ

使用 40W 烙铁与针相接触 2~3 秒,看针是否变形,

3

耐温

MA

松动。

烙铁

锡炉浸锡,要求焊盘及露铜部分上锡面积大于 85%

4

可焊性

MA

(锡炉 230℃±5℃)。

小锡炉

1. 所用材料与样品相符。

5

材料

MA 目测、对比样品

2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

实用大全

标准文档
1. 材料用料正确。 2. 小包装方式、数量无误。 6 包装标识 3. 装箱方式、数量无误。 4. (内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制: 日期

审核: 日期

批准: 日期

来料检验标准
连接线

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-044 受控状态: 修 改 页: 第 44 页 共 53 页

抽样来料检验标准:依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=2.5;MA:AQL= 1.5;CR:AQL=1.0

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

序 检验 号 项目

检验标准及要求

丝印 丝印是否清晰可辩,标识与来料相符(认证标志、耐温、耐压、线号)。

AQ 检验方 L法
MI 目测

1 外观

元 1. 引脚是否氧化,线体是否有毛刺和破损、划伤;。 件 2. 热缩管所包裹的位置以不防碍上螺钉为宜(参考图纸); 体 3. 观察端子与连接线间的焊锡及压接均良好并与图纸相符。

MI 目测

1. 长度尺寸与脚间距是否与技术图纸相符。

2

尺寸 线序

2. 各线排列顺序、端子方向与图纸相符。

3. 符合实际装配。

钢尺或游
MA 标卡尺
目测

1. 拉力、接触电阻:用拉力计测量端子拉力 时间一分钟

型号

线规

线数

线径 端子拉力

1007

30

7

0.1

1007

28

7

0.127

1007

26

7

0.16

≥3Kg

1007

24

11

0.16

≥3Kg

1007

22

17

0.16

3 电性

1007

20

26

0.16

≥5Kg

1007

18

41

0.16

1007

16

16

0.254

2. 抗电强度:用耐压测试仪测量连接线的线芯对绝缘层≥1.8KV(AC)。

耐电压测 试仪
CR 万用表
拉力计 绝缘电阻
测试仪

3. 导通性能:使用数字万用表三极管测量档两表笔连接好线端子及对应引脚,

万用表有报警声,则定为良好。

4. 绝缘电阻:用绝缘电阻测试仪测线芯对绝缘层 DC500V RD≥1000MΩ。

5. 弯折强度,将线材折弯成 90°、10 次,观察其有无折断及不导通现象。

实用大全

标准文档

4

可 焊 性

使用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230±5℃锡炉中, 一次上锡面积大于 85%。

MI

烙铁 小锡炉

5 耐热性 将连接线放于 90℃烘干箱内持续 2 小时,其橡胶及针座未融化为良好。

MA 烘干箱

6 材料 1. 所用材料与样品相符。
2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

对比样 品

7

包装 标识

1.带直插针或弯针等暴露针脚的,要求用报纸等。进行小包装。 2.装箱方式为周转箱或一次性纸箱、数量无误。 3.(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI 目测

拟制:

审核:

批准:

日期
抽样来料检验标准:

日期
来料检验标准
芯片

日期
版 本:第三版
文件编号:WI/HV-12-045 受控状态: 修 改 页: 第 45 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=2.5;MA:AQL= 1.5;CR:AQL=0.65

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

序 号

外观

检验标准及要求

AQL

检验方法

丝印是否清晰可辩,来料检验单的标识规格

丝印

MA

型号是否与来料实物相符。

目测

1

尺寸

针脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、

元件体

MA

划伤。

目测

2 电性 符合产品工程图

MA

把其插在使用相应的 PCB 板上,测试其功能是否正常

3 可焊性

MA

操作(参考下面整板试验)。

钢尺或游标卡尺
试装配

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4 材料

MA

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

小锡炉

包装 1.所用材料与样品相符。 5
标识 2.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA 目测、对比样品

实用大全

标准文档
1.材料用料正确。 2.小包装方式、数量无误。 6 3.装箱方式、数量无误。 4.(内包装、外箱)标识单内容正确。

拟制: 日期

审核: 日期

MI

目测

批准: 日期

抽样来料检验标准:

来料检验标准
芯片

版 本:第三版
文件编号:WI/HV-12-045A 受控状态: 修 改 页: 第 45A 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=2.5;MA:AQL= 1.5;CR:AQL=0.65

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

实用大全

标准文档

松翰芯片标识对照表(标识在芯片的底部)

2501B

B1BSG

2501B1

B1B1SG

2511

B11SG

a) 采购部在来料检验单上打印的芯片规格型号必须是此批来料的芯片规格型号 b) 品质部 IQC 来料检验员必须熟悉清楚认识芯片的标识型号 c) IQC 检验员在检验芯片外观时:来料检验单的型号规格/对应芯片配料表的型号/实物
芯片的型号,在检验过程中必须是一致

拟制: 日期

审核: 日期

批准: 日期

来料检验标准
发光二极管

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-046 受控状态: 修 改 页: 第 46 页 共 53 页

抽样来料检验标准: 依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

实用大全

发光二极管: 序 检验 号 项目
1 外观

引脚 元件体

标准文档

检验标准及要求

AQL

发光二极管引脚是否氧化。

MI

元件体不能有毛刺和破损;封装塑料不能有杂物、 MI
气泡或表面受损;灯体内允许有轻微生锈现象。

检验方法
目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图;符合实际装配。

MA 游标卡尺

1. 用晶体管测试仪测出器件的正向压降或用稳压电源带 20mA 负载测

其正向压降 1.80<α<2.30V(参考供方产品规格书)。

2. 发光亮度、色度及分散性:IF=20mA VF=2.0±0.2V 用目测发光二

极管的亮度和颜色是否符合要求,并查看其有无分散性。

晶体管测试

3. 查看器件的外形缺口是否符合要求。



4. 低温-20℃~-18℃以上,其正向压降为 1.80<α<2.30V

万用表

3 电性

MA

5.老化试验:IF-20mH,VF=2.0±0.2V,老化 24 小时无不亮及变暗现象。

稳压电源

颜色

红色 黄色 蓝色 绿色 白色

恒温箱或冰

标称值 2

2

3

3

3



允许范围 ±0.2 ±0.2 ±0.2 ±0.2 ±0.2

老化

If=20mA,Vf= ±0.2

实验

老化 24 小时无不亮及变暗现象

4

可焊性

用 40W 烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230±5℃锡炉中,
一次上锡面积大于 85%。

MA

5

材料

3、 所用材料与样品相符。
4、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

6

包装标 5、 包装材料用料正确,小包装方式、数量无误。 识 6、 装箱方式、数量无误、(内包装、外箱)标识单内容正确。 MI

烙铁 小锡炉 目测、对比 样品
目测

拟制: 日期

审核: 日期

批准: 日期

来料检验标准
光耦(EL3021)

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-047 受控状态: 修 改 页: 第 47 页 共 53 页

实用大全

标准文档

抽样来料检验标准:

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

光耦:EL3021

序号

检验 项目

1

外观

检验标准及要求

AQL

丝印

丝印是否清晰可辩,标识是否与来料 MI
相符。

检查管的引脚是否氧化,元件体是否

元件体

MI

有毛刺和破损。

2

尺寸 符合产品工程图

MA

1、输入端输入电流 IF=10mA,电压≤1.5V。

2、输入端反向电流:VR=3V,T=25℃时,漏电流

3

电性 ≤100μA。

MA

3、关断时输出端电阻≥500MΩ。

4、检测输出三极管的 Vceo≥400V。

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在

4

可焊性

MI

230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

1 所用材料与样品相符。

5

材料

MA

2 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

检验方法 目测
目测
游标卡尺
晶体管测试仪 万用表 稳压电源
烙铁 小锡炉 目测

1 材料用料正确。 2 小包装方式、数量无误。 6 包装标识 3 装箱方式、数量无误。 4(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制: 日期
实用大全

审核: 日期
来料检验标准
光耦(EL817)

批准: 日期
版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-048 受控状态: 修 改 页:

抽样来料检验标准:

标准文档

第 48 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

光耦:EL817C

序号

检验 项目

1

外观

检验标准及要求

AQL

丝印

丝印是否清晰可辩,标识是否与来料 MI
相符合。

检查管的引脚是否氧化,元件体是否

元件体

MI

有毛刺和破损。

检验方法 目测 目测

2

尺寸 符合产品工程图

MA

游标卡尺

1、输入电压、电流检测应在规格书范围。

2、关断时输出端电阻≥100MΩ。

3

电性 3、检测输出三极管的 Vceo≥35V。

4、IF:20mA 时,输出电流能力≥50mA。

其余按常规检测。

晶体管测试仪

MA

万用表

稳压电源

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放

烙铁

4

可焊性

MI

在 230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

小锡炉

1 所用材料与样品相符。

5

材料

MA

目测

2 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

1 材料用料正确。

2 小包装方式、数量无误。

6

包装标识

3 装箱方式、数量无误。

4(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制: 日期

审核: 日期

批准: 日期

实用大全

来料检验标准

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-049 受控状态:

抽样来料检验标准:

可控硅

标准文档

修 改 页: 第 49 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

可控硅:BT136-600D

序号

检验 项目

检验标准及要求

AQL

丝印 丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。 MI

1

外观

元件体

检查管体的引脚是否氧化,元件体是否有 毛刺和破损。

MI

2

尺寸 符合产品工程图

MA

1. 用晶体管测试仪测量可控硅的 T1-T2,T2-T1 间 的耐压值,耐压值 600V 。
2. 触发电流和触发电压,如下图示接好电路, 电流表 A1 所示即为触发电流,电压表 V 所示为 触发电压。

3

电性

MA

检验方法 目测 目测
游标卡尺
晶体管测试仪 万用表 稳压电源

4

可焊性

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230 ±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

MI

5

材料

1 所用材料与样品相符。 2 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

烙铁 小锡炉
目测

1 材料用料正确。

6

包装标识

2 条状管包装方式、数量无误。 3 装箱方式、数量无误。

4(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制: 日期

审核: 日期

批准: 日期

实用大全

来料检验标准

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-050

标准文档
软性薄膜开关
抽样来料检验标准:

受控状态: 修 改 页: 第 50 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

共 53 页
检验方法

1 外观 元件体是否有破损、划伤。

MI

目测

2 尺寸 符合产品工程图,符合实际装配。

MA

钢尺或游标卡尺

1、用万用表测试其接触电阻及导通性能,应小于

3 电性

150mΩ。(参考下面技术参数)

CR

2、手按按键,弹性好,能完全复位。

万用表

1、 所用材料与样品相符。 6 材料 2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
3、材质韧性要好,不易断裂。

MA 目测、对比样品

1、材料用料正确。 2、小包装方式、数量无误。 8 包装标识 3、装箱方式、数量无误。 4、(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制: 日期
实用大全

审核: 日期

批准: 日期

来料检验标准 版 本:第三版

标准文档
LED 数码管

文件编号:WI/HV-12-051

受控状态:

修 改 页:

第 51 页

共 53 页

抽样来料检验标准:依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=2.5;MA:AQL= 1.5;CR:AQL=1.0

MI:次要缺陷
序 检验 号 项目

MA:主要缺陷 CR:致命缺陷 检验标准及要求

AQL

检验方法

丝印 丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。 MI

目测

1 外观

a) 膜纸是否*齐,无翘起; 元 件 b) 引脚是否变形,是否氧化,上锡要良好; MI 体
c) 产品不可弯曲、变形、划伤、毛刺。

目测

1.长、宽、厚等重要尺寸是否符合产品工程图

2 尺寸

MA

2. 引脚粗细、长度是否符合要求

游标卡尺

1、 反向电流要小于 10uA;

LED 电流测试台

2、 正向电压 2-2.5V;

3 电性

CR

万用表

3、 亮度是否符合(参照样品),且一致性要好;

4、参照 LED 灯老化 4 小时后无不良现象



4

焊 引脚放在 230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

MI





5

热 将连接线放于 90℃烘干箱内持续 30 分钟,其本体要良好。 MA



1、所用材料与样品相符。

6 材料

MA

2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

包装 1.装箱方式为周转箱或一次性纸箱、数量无误。

7

MI

标识 2.(内包装、外箱)标识单内容正确。

小锡炉
烘干箱
对比样品 目测

拟制: 日期

审核: 日期

批准: 日期

实用大全

标准文档

来料检验标准
散热片

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-052 受控状态: 修 改 页: 第 52 页 共 53 页

抽样来料检验标准:依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=2.5;MA:AQL= 1.5;CR:AQL=1.0

MI:次要缺陷
序 检验 号 项目

MA:主要缺陷 CR:致命缺陷 检验标准及要求

AQL 检验方法

1、表面光洁,无脏污、铁屑,冲孔无偏位 1 外观
2、镀层与要求相符

MI 目测
MI

2 尺寸 结构尺寸符合产品工程图要求

目测
MA
游标卡尺

3 装配 1、 与相应物件、螺丝与散热片试装,检查是否符合要求 CR 电批

1、 使用 PCB 板刮有镀层的散热片,应无明显划痕及掉镀层

镀层

现象;

4

MI

附着性 2、 使用透明胶纸压贴在镀层后,快速撕开,重复三次,无

镀层脱落现象;

PCB 板料 透明胶

1、 所用材料与样品相符 5 材料
2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合

MA 对比样品

包装 1. 包装标识应与实物一致,无混料 6
标识 2.(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI 目测

拟制: 日期
实用大全

审核: 日期

批准: 日期

标准文档

抽样检验标准:

来料检验标准
压敏电阻

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-053 受控状态: 修 改 页: 第 53 页 共 53 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

ZNR1 10D511K

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

元件上文字标识与配料表上型号规格是

元件标识

MA

1 外观

否相同,文字标识是否完整清晰。

检验方法 目测

元件体 元件体有无破损,引脚是否氧化。

MI

目测

2 尺寸 符合产品工程图。

MA

钢尺或游标卡尺

a) 将压敏电阻插在漏电流测试仪上,电压调节

到压敏电阻耐压标称值 420V,通电 1 分钟后,

3 电性

电流调节为 1mA,记录此时的电压值,然后 把电流调节为 0.1mA,记录此时的电压值, CR 电压的比值应<1.08。

绝缘电阻测试仪 万用表

b) 用绝缘电阻测试仪在压敏电阻两端加上它的

标称压敏电压 510V,看看是否跟标称值一致。

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4 可焊性

MA

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

烙铁 小锡炉

1、所用材料与样品相符。 5 材料
2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA 目测、对比样品

1、包装材料用料正确。 包装 2、小包装方式、数量无误。 6 标识 3、装箱方式、数量无误。
4、(内包装、外箱)标识单内容正确。

MA

目测

实用大全

拟制: 日期

标准文档
审核: 日期

批准: 日期

来料检验标准
固定电感(滤波器)类
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-054 受控状态: 修 改 页: 第 54 页 共 56 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65

MI:次要缺陷
序 检验 号 项目

MA:主要缺陷 CR:致命缺陷 检验标准及要求

AQL

检验方法

丝印 丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。 MI

1 外观

引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、

元件体

MI

划伤。

目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图

MA

钢尺或游标卡尺

用耐压测试仪测其抗电强度,数字电桥测其电感量,

3 电性

CR

绝缘电阻测其绝缘性能。

耐电压测试仪 数字电桥

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4 可焊性

MI

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

1. 所用材料与样品相符。

5 材料

MA

2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

烙铁 小锡炉
目测、对比样品

实用大全

标准文档

1. 材料用料正确。

2. 小包装方式、数量无误。

包装

6

3. 装箱方式、数量无误。

标识

4. (内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制: 日期

审核: 日期

批准: 日期

来料检验标准
固定电感(滤波器)类
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-054A 受控状态: 修 改 页: 第 54A 页 共 55 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

磁环线圈与电源滤波器电特性要求

实用大全

标准文档

磁环线圈 产品型号:HSD-L01

电感量 L: 46mH±10%

品质因素: 2:5.98

测试仪器: TH2812A LCR 数字电桥

测试频率: 1KHz

电原理图: 1

黄白磁环:50~26B

2-UEW/Φ0.6 31TS

2

序号 1 2

测试项目
INDUCTANCE
INDUCTANCE TOLERANCE

电源滤波器电特性要求 端子

规格

1→2

8.5~17.5mH

3→4

8.5~19.5 mH

L(1-2)-L(3-4)

0.26mH MAX

3

RESISTANCE

1→2 3→4

0.6Ω MAX

测试仪器 CG2811 YY2511

拟制: 日期

审核: 日期

批准: 日期

来料检验标准
贴片类(电阻、电容)
抽样来料检验标准:

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-055 受控状态: 修 改 页: 第 55 页 共 1 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=2.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

实用大全

标准文档

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

丝印 丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。 MI

1 外观

元件体是否有毛刺和破损现象,焊盘有否

元件体

MI

氧化。

2 尺寸 符合产品工程图

MA

检验方法 目测 目测
钢尺或游标卡尺

用数字电桥或万用表测其容量阻值、极性等功能是否

3 电性

CR

符合其规格型号。

数字电桥 万用表

4 可焊性 用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满。
1. 所用材料与样品相符。 5 材料 2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
3. 贴片电容是否在一定有效期内。
1. 材料用料正确。 包装 2. 小包装方式、数量无误。 6 标识 3. 装箱方式、数量无误。
4. (内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

烙铁

MA 目测、对比样品

MA

目测

拟制: 日期

审核: 日期

批准: 日期

来料检验标准
LCD 液晶片

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-056 受控状态: 修 改 页: 第 56 页 共 1 页

实用大全

标准文档

抽样来料检验标准:

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4

MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷

序 检验 号 项目

检验标准及要求

AQL

1.丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。表面

是否有黑点,划伤、气泡、彩虹等不良现象。

2.黑点杂质要求:Ф≤0.15 ㎜,允收。Ф≤0.2 ㎜允

1 外观

MA

许 2 点,且相间距大于 5 ㎜允收。

3.划痕:宽度≤0.03 ㎜,允收。宽度≤0.05 ㎜,长

度≤4.0 ㎜ ,不多于 2 条允收。

检验方法 目测

2 尺寸 符合产品工程图

MA

钢尺或游标卡尺

1. 安装于手机或电控板上电后,看其显示功能是否 齐全,文字标识清晰等。
3 电性 2. 液晶片适应电压范围:2.6~3.2V,此范围显示清 CR 晰,无模糊、重影等不良现象。
3. 荧光屏显示清晰、字符无缺笔少划,亮度一致。

稳压电源 万用表 测试架

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4 可焊性

MI

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

1. 所用材料与样品相符。

5 材料

MA

2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

1. 材料用料正确。

包装 2. 小包装方式、数量无误。

6

MI

标识 3. 装箱方式、数量无误。

4. (内包装、外箱)标识单内容正确。

烙铁 小锡炉 目测、对比样品
目测

拟制: 日期

审核: 日期

批准: 日期

实用大全

来料检验标准
共模线圈

版 本:第三版 文件编号:WI/HV-12-054 受控状态: 修 改 页:

抽样来料检验标准:

标准文档

第 57 页 共 56 页

依据 MIL-STD-105D-Ⅱ; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65

MI:次要缺陷
序 检验 号 项目

MA:主要缺陷 CR:致命缺陷 检验标准及要求

AQL

检验方法

丝印 丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。 MI 1 外观
元件体 引脚是否氧化,元件体是否有绝缘纸翘起 MI

目测 目测

2 尺寸 符合产品工程图

MA

钢尺或游标卡尺

1、用耐压测试仪测其抗电强度: N1-N2: AC 2.5KV 3mA 60S 无击穿 3 电性 2、数字电桥测其电感量: N1-N2:≥12mH(1KHZ)

耐电压测试仪 CR
数字电桥

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在 230

4 可焊性

MI

±5℃锡炉中,一次上锡面积大于 85%。

1、 所用材料与样品相符。

5 材料

MA

2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

1、 材料用料正确。

2、 小包装方式、数量无误。

包装

6

3、 装箱方式、数量无误。

MI

标识

4、 (内包装、外箱)标识单内容正确。

烙铁 小锡炉 目测、对比样品
目测

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